半导体器件的辐射效应
doi: 10.11804/NuclPhysRev.05.03.026
- Received Date: 1900-01-01
- Rev Recd Date: 1900-01-01
- Publish Date: 1988-09-20
Abstract: 抗核辐射电子学对于国防和经济建设都有重大意义。为了研究出使电子器件和系统具有抗辐射能力的技术措施,就必须首先研究辐射对电子器件和系统的影响(辐射效应)以及辐射如何对电子器件和系统产生影响(损伤机制)。本文评述了辐射环境、辐射效应和损伤机制、模拟实验方法和设备以及发展概况。
Citation: | 洪忠悌. 半导体器件的辐射效应[J]. Nuclear Physics Review, 1988, 5(3): 26-30. doi: 10.11804/NuclPhysRev.05.03.026 |