GeV能量的Fe离子在C<SUB>60</SUB>薄膜中的辐照效应研究

姚存峰; 金运范; 宋银; 王志光; 刘杰; 孙友梅; 张崇宏; 段敬来

doi:10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

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GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究

姚存峰, 金运范, 宋银, 王志光, 刘杰, 孙友梅, 张崇宏, 段敬来

文章导航 > 原子核物理评论 > 2007 > 24(4): 309-402

姚存峰, 金运范, 宋银, 王志光, 刘杰, 孙友梅, 张崇宏, 段敬来. GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究[J]. 原子核物理评论, 2007, 24(4): 309-402. doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

引用本文:

姚存峰, 金运范, 宋银, 王志光, 刘杰, 孙友梅, 张崇宏, 段敬来. GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究[J]. 原子核物理评论, 2007, 24(4): 309-402. doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

YAO Cun-feng, JIN Yun-fan, SONG Yin, WANG Zhi-guang, LIU Jie, SUN You-mei, ZHANG Chong-hong, DUAN Jing-lai. Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions[J]. Nuclear Physics Review, 2007, 24(4): 309-402. doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

Citation:

YAO Cun-feng, JIN Yun-fan, SONG Yin, WANG Zhi-guang, LIU Jie, SUN You-mei, ZHANG Chong-hong, DUAN Jing-lai. Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions[J]. Nuclear Physics Review, 2007, 24(4): 309-402. doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究

doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

1中国科学院近代物理研究所, 甘肃兰州 730000; 2 中国科学院研究生院, 北京 100049

详细信息

通讯作者: 姚存峰

Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions

1 Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences, Lanzhou 730000, China;2 Graduate School of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China

摘要: 利用傅立叶转换红外光谱和Raman谱仪分析了0.98 GeV的Fe离子在电子能损Se为3.5 keV/nm时，不同辐照剂量（5×1010 —8×1013 ions/cm2)下，在C60薄膜中引起的辐照损伤效应。分析表明， Fe离子辐照引起了C60分子的聚合与损伤。在辐照剂量达到一中间值1×1012 ions/cm2， C60分子的损伤得到部分恢复，归因于电子激发引起的退火效应。通过对Raman数据的拟合分析，演绎出Fe离子辐照在C60材料中形成的潜径迹截面或引起损伤的截面约为1.32×10-14 cm2。
- C60薄膜 /
- 辐照效应 /
- GeV能量的离子 /
- 退火效应 /
- 聚合
Abstract: The irradiation effects of C60 films induced by 0.98 GeV Fe ions at the same electronic energy loss of 3.5 keV/nm and different irradiation dose ranging from 5×1010 to 8×1013 ions/cm2 ， were analyzed by Raman scattering and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopes. The analysis results indicate that the irradiation results in a molecular polymerization and destruction of the C60. The partial recovery of the damage at the intermediate value of irradiation dose， 1×1012 ions/cm2， was caused by an annealing effect of electronic energy loss. The ion track or damage crosssection σ deduced from the Raman data was 1.32×10-14 cm2.
- C60 film /
- irradiation effect /
- GeV energy ion /
- annealing effect /
- polymerization

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GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究

doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

1中国科学院近代物理研究所, 甘肃兰州 730000; 2 中国科学院研究生院, 北京 100049

通讯作者: 姚存峰

收稿日期: 1900-01-01
修回日期: 1900-01-01
刊出日期: 2007-12-20

关键词:

C60薄膜 /

摘要: 利用傅立叶转换红外光谱和Raman谱仪分析了0.98 GeV的Fe离子在电子能损Se为3.5 keV/nm时，不同辐照剂量（5×1010 —8×1013 ions/cm2)下，在C60薄膜中引起的辐照损伤效应。分析表明， Fe离子辐照引起了C60分子的聚合与损伤。在辐照剂量达到一中间值1×1012 ions/cm2， C60分子的损伤得到部分恢复，归因于电子激发引起的退火效应。通过对Raman数据的拟合分析，演绎出Fe离子辐照在C60材料中形成的潜径迹截面或引起损伤的截面约为1.32×10-14 cm2。

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GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究

doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

通讯作者: 姚存峰

Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions

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出版历程

GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究

doi: 10.11804/NuclPhysRev.24.04.309

1中国科学院近代物理研究所, 甘肃 兰州 730000; 2 中国科学院研究生院, 北京 100049

通讯作者: 姚存峰

English Abstract

Irradition Effect in C60 Films Induced by GeV Fe Ions

1 Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences, Lanzhou 730000, China;2 Graduate School of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China

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GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究

GeV能量的Fe离子在C₆₀薄膜中的辐照效应研究

1中国科学院近代物理研究所, 甘肃兰州 730000; 2 中国科学院研究生院, 北京 100049