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全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

田宇宏

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. 原子核物理评论, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
引用本文: 田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. 原子核物理评论, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
Citation: 田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

  • 摘要: 全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。
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出版历程
  • 收稿日期:  1900-01-01
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  1991-06-20

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

摘要: 全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。

English Abstract

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. 原子核物理评论, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
引用本文: 田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. 原子核物理评论, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041
Citation: 田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

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